Área de Concentração: Física da Matéria Condensada

Descrição: Nesta linha de pesquisa realizamos refinamentos estruturais através do método de Rietveld usando dados de difração de raios X convencional e sincrotron e difração de nêutrons. Através dos resultados obtidos no refinamentos realizamos cálculos de densidade eletrônica e associamos estes às propriedades multiferróicas dos materiais estudados. Para uma se obter uma análise mais precisa dos comportamentos estrutural e eletrônico destes materiais, realizamos também cálculos ab initio via Density Functional Theory.