| Resumo: |
A
inovação científica faz-se necessária dia após dia, e a busca por
técnicas experimentais que permitam abranger novas perspectivas de
estudos se torna cada vez mais importante. Neste trabalho, tivemos como
meta montar a técnica de Microscopia Fototérmica de Reflexão (MFR) para
servir como uma nova ferramenta dos laboratórios de física da UEM. Ela
se baseia na dependência da variação da refletância da amostra quando
submetida a uma excitação modulada, em nosso caso, feita com a
utilização de um laser de bombeio. Depois de posta em funcionamento,
buscou-se fazer testes para averiguar a eficiência da montagem.
Utilizou-se, para isso, amostras metálicas encontradas com facilidade
na oficina mecânica da Universidade. Quais sejam: alumínio, cobre,
ferro, aço inox 316, latão e níquel. Os testes inicias, se concentraram
em medir o comportamento do sinal fototérmico em função da potência e
da freqüência de modulação do feixe bomba. Todas as amostras medidas
apresentaram comportamento coerente do sinal fototérmico, diretamente
proporcional à potência e inversamente proporcional à freqüência. Em
seguida, com um espelho de prata coberto com regiões de fita isolante
(preta), fez-se um mapa simples de refletividade da amostra, que
atestou o bom funcionamento e comunicação com o motor de passo. Por
último, foram realizadas medidas de refletância em duas temperaturas
distintas, 25º C e 75º C, com o auxilio de um peltier e um controlador
de temperatura, para o cálculo do das amostras. Apresentamos
ainda resultados obtidos para uma amostra de silício, a qual passou
pelos mesmos testes dos metais, e permitem-nos concluir que, em vista
do tempo e das dificuldades de montagem, pode-se aperfeiçoar o sistema
para estudo de semicondutores por fotorefletância óptica.
Palavras chaves: Microscopia Fototérmica de Reflexão. Microscopia
Óptica de Reflexão. Propriedades Ópticas de Metais. Coeficiente de
Termorefletância. Difusividade Térmica.
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