:: Dissertação   

Título da Dissertação: MONTAGEM E AVALIAÇÃO DA TÉCNICA DE MICROSCOPIA FOTOTÉRMICA DE REFLEXÃO PARA MEDIDA DE PROPRIEDADES TERMO-ÓPTICAS DE METAIS
Nome do Aluno: Pablo Nabuco Portes
Banca Examinadora: Antonio Carlos Bento (Orientador)
Norberto Cella - IPRJ/UERJ
Mauro Luciano Baesso - DFI/UEM
Data da Defesa: 15/05/2014
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Resumo:

A inovação científica faz-se necessária dia após dia, e a busca por técnicas experimentais que permitam abranger novas perspectivas de estudos se torna cada vez mais importante. Neste trabalho, tivemos como meta montar a técnica de Microscopia Fototérmica de Reflexão (MFR) para servir como uma nova ferramenta dos laboratórios de física da UEM. Ela se baseia na dependência da variação da refletância da amostra quando submetida a uma excitação modulada, em nosso caso, feita com a utilização de um laser de bombeio. Depois de posta em funcionamento, buscou-se fazer testes para averiguar a eficiência da montagem. Utilizou-se, para isso, amostras metálicas encontradas com facilidade na oficina mecânica da Universidade. Quais sejam: alumínio, cobre, ferro, aço inox 316, latão e níquel. Os testes inicias, se concentraram em medir o comportamento do sinal fototérmico em função da potência e da freqüência de modulação do feixe bomba. Todas as amostras medidas apresentaram comportamento coerente do sinal fototérmico, diretamente proporcional à potência e inversamente proporcional à freqüência. Em seguida, com um espelho de prata coberto com regiões de fita isolante (preta), fez-se um mapa simples de refletividade da amostra, que atestou o bom funcionamento e comunicação com o motor de passo. Por último, foram realizadas medidas de refletância em duas temperaturas distintas, 25º C e 75º C, com o auxilio de um peltier e um controlador de temperatura, para o cálculo do  das amostras. Apresentamos ainda resultados obtidos para uma amostra de silício, a qual passou pelos mesmos testes dos metais, e permitem-nos concluir que, em vista do tempo e das dificuldades de montagem, pode-se aperfeiçoar o sistema para estudo de semicondutores por fotorefletância óptica.

Palavras chaves: Microscopia Fototérmica de Reflexão. Microscopia Óptica de Reflexão. Propriedades Ópticas de Metais. Coeficiente de Termorefletância. Difusividade Térmica.