| Título da Dissertação: | Montagem e aplicação da interferometria de ondas térmicas ao estudo de filmes espessos e imagens de defeitos de sólidos amorfos |
| Nome do Aluno: | Elderi Nogueira da Silva |
| Banca Examinadora: | Antonio Carlos Bento (orientador) Ossamu Nakamura - UFBA Mauro Luciano Baesso - DFI/UEM |
| Data da Defesa: | 04/04/2002 |
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| Resumo: | Nesta
dissertação é apresentada a primeira montagem da
técnica de Interferometria de Ondas Térmicas na
América do Sul, sendo esta a primeira dissertação
do Grupo de Estudos dos Fenômenos Fototérmicos na
área,. Além da montagem e a automação da
Técnica de Interferometria de Ondas Térmicas, descrevemos
detalhadamente a teoria da de Interferometria de Ondas Térmicas,
bem como um novo modelo baseado na transmissão. A técnica
é testada em uma amostra de filme acrílico sob dois tipos
diferentes de substratos, para determinar suas propriedades
térmicas, bem como obter uma curva de correlação
para a medida da espessura desse tipo de filme. O novo modelo é
testado em uma das amostras que utilizamos na análise das
propriedades térmicas, em que se verificou que os resultados
obtidos concordam para os dois modelos, quando aplicados a uma mesma
amostra. Numa outra aplicação, testamos uma amostra de
vidro, contendo defeitos em sua superfície (bolhas de ar). Os
resultados das imagens obtidas nos dão uma perspectiva de que
poderemos analisar defeitos em vidros, tais comorachadura, cristalites etc. |